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AXD安信達測試篩選Nand Flash(閃存芯片)分析儀設備

簡介
NFA100是一套功能強大且極具靈活性的Nand Flash分析系統,它最大限度地滿足用戶的對于Nand Flash的信息分析需求以及對這些信息的再處理需求。
1.  NFA100最大限度地提供NAND的各種原始信息。
對NAND的認知(原始信息)只能通過對NAND發送各種command,同時讀取output.
NFA100除了可以發送erase, program, read, reset, getID等簡單command外,
還能發送諸如set feature/get feature等command。這樣,很容易實現Nand Flash的readretry(RR)等方面的測試。
NFA100還能發送用戶自定義的command (1-byte command),可支持于客戶的一些特殊測試。
2. 有能力對(1)的各種原始信息進行再處理
NFA100有很強的對原始信息的再處理能力,Renice也可以開發各種算法為客戶提供建議/客制。比如bad block detection和nand sorting.
3. NFA100為客戶提供了一個完全開放的平臺,非常方便客戶自行按照自己的需求設計各種測試。
NFA100提供了兩種不同級別的用戶開發平臺
3.1. API 
通過API,各種對NAND Flash的操作及設定,用戶都可以通過調用NFA100提供的庫程序在自己的軟件中方便的實現自己需要的功能。
3.2.腳本(script)
NFA100提供了一套自己的編程語言,用戶可以在NFA100的環境(界面)下執行自定義的script。
4. NFA100采用分布式架構,即每一個子板(SUB board)上都有NAND controller, 
因此對于部分測試功能無須占用主機資源。使其operation速度可以很快。
program的throughput的設計spec可以達到: 1GB/s
read的throughout的設計spec可以達到: 1.5GB/s
對于產品廠商而言,NFA100的強大功能可以幫助用戶按照可靠性高低需求不同將Nand Flash分為不同的等級,最真實的評估Nand Flash可靠性和真實壽命。
1.對于原廠提供的Nand Flash,NFA100可以測試出真實的P/E次數,如:Nand Flash的規格書上標明的P/E cycle次數為3K,真實的情況可能會有部分芯片擦寫次數大于3K,甚至是6K,篩選出壽命最佳的Nand Flash用于對產品來說更具壽命保障。
2.對于非原裝的Nand Flash,NFA100可以準確的掃描出其壞塊以及即處于臨界狀態的塊;管理功能可以將這些壞塊加以標識和管理,保證數據不會寫入到認為不良的Block上面,從而保障產品的可靠性。
NFA100的這種功能還可以幫用戶判斷所采購的Nand Flash是否為原裝,也可以通過NFA100判斷是否為二手翻新片或者其他假冒偽劣產品。
對于研究機構、高校或公司研發人員而言,NFA100是個靈活的平臺,方便進行各種debug、學術研究和技術開發。
基本特征:

1. 母版

2. 底版


3.分析軟件
分析軟件主要包括下面內容: (主要部分)
1.       NAND interface timing setting
2.       NAND device power voltage setting
3.       NAND device ID information and status check
4.       Bad Block scan and management
5.       Access time measurement
6.       P/E cycle dependence of access time
7.       NAND command(Erase, Program, Read)
8.       Program pattern settings(Increment, Pseudo Random, Page Stripe etc.)
9.       Dump of read data and save to file
10.   P/E Cycle(P/E cycle number, flexible settings of program patterns)
11.   Script execution(Renice Script Language; SSL)
12.   Error rate measurement(Bit ER, Page ER after ECC)
13.   ECC strength settings(code length and correctable error number)
14.   Data retention measurement(time vs bit error)
15.   Program disturb measurement(P/E cycle vs bit error)
日本大胆欧美免费视频 16.   Error distribution(page/column dependence)

支持下列Nand Flash
目前測試已經支持到16nm,3D Nand等可以根據客戶需求進行升級
1.       ONFI 3.2 / Toggle DDR 2.0(SLC / MLC / TLC)
2.       NAND IF : Asynchronous / Synchronous / Toggle DDR
3.       Package : TSOP 48pin, BGA 63/100/132/152pin
4.       Verified to work with latest NAND device
日本大胆欧美免费视频 5.       (Toshiba 19nm, Micron/Intel 20nm, Samsung 21nm)

日本大胆欧美免费视频AXD安信達深耕經營閃存存儲市場近十年,擁有優異的客制化能力、嚴謹的制造質量與實時的技術支持,不但是企業最佳的合作伙伴,更通過多家一級大廠認證,致力于為客戶提供可靠 可信 產品與服務。

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